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有志提高个人技能或企业管理人士
课程对象项目经理.品管人员.研发人员.测试相关人员。
课程目标通过学习器件失效分析课程，使学员体会到器件失效分析的重要性和迫切性，学习到电子器件常见失效模式、失效机理、失效分析流程、破坏性物料分析（DPA）技术等，通过大量的失效分析案例讲解，加深学员对该课程的理解，初步掌握电子器件失效分析技能和方法，提高器件应用水平。
课程收益通过学习器件失效分析课程，使学员体会到器件失效分析的重要性和迫切性，学习到器件常见失效模式、失效机理、失效分析流程、破坏性物料分析（DPA）技术等，通过大量的失效分析案例讲解，加深学员对该课程的理解，初步掌握失效分析技能，提高器件应用水平。
课程大纲一、失效分析基础
1、失效分析的产生与发展
2、失效分析的目的和意义
3、失效分析的基本内容
二、典型失效模式
1、开路
2、短路
3、功能丧失
4、功能退化
5、重测合格
6、结构不良
三、典型失效机理
1、设计缺陷
2、内部退化
3、表面退化
4、金属化退化
5、氧化层缺陷
6、键合缺陷
7、封装失效
8、应用失效
四、器件失效分析流程
1、电参数和功能测试
2、模拟实验
3、管脚IV曲线测试
4、外观镜检
5、解剖分析
6、内部镜检
7、扫描电镜检查
8、失效部位照相
9、应用分析和验证
10、失效分析报告
五、破坏性物理分析（DPA）介绍
1、单片微电路的DPA程序
2、混合和多片微电路程序
3、去封盖程序
4、DPA的应用
5、DPA案例
六、静电损伤
1、概述
2、静电放电（ESD）的损伤模型
3、静电损伤的失效模式
4、半导体器件ESD失效原因的分析
5、静电放电损伤的预防措施
6、ESD损伤实例
7、静电放电（ESD）损伤的防护
七、CMOS集成电路的闩锁效应
1、CMOS-IC中寄生可控硅的触发机理
2、闩锁效应的检测方法
3、抑制闩锁效应的措施
4、使用中的防闩锁措施
八、典型失效分析案例介绍
九、各类器件的失效模式、机理和可靠应用要点
1电容
1.1电容技术和分类
1.2失效模式和失效机理
1.3电容可靠应用概述
1.4各类电容的应用信息
1.5可靠应用案例
2晶体、晶振
2.1晶振技术
2.2失效模式和失效机理
2.3可靠应用分析
2.4应用信息
2.5可靠应用操作
2.6可靠应用案例
3电阻
3.1电阻技术
3.2电阻失效模式和失效机理
3.3电阻的可靠应用概述
3.4各类电阻的应用信息
3.5可靠应用操作
3.6可靠应用案例
4热敏电阻
4.1热敏电阻技术
4.2失效模式和失效机理
4.3可靠应用要求
4.4应用信息
4.5可靠应用操作
5二极管
5.1二极管技术
5.2失效模式和失效机理
5.3可靠应用分析
5.4应用信息
5.5可靠应用操作
5.6可靠应用案例
6晶体管
6.1晶体管技术
6.2失效模式和失效机理
6.3可靠应用分析
6.4应用信息
6.5可靠应用操作
6.6可靠应用案例
7磁性器件
7.1技术
7.2失效模式和失效机理
7.3可靠应用分析
7.4应用信息
7.5可靠应用操作原则
7.6可靠应用案例
8微电路
8.1微电路技术
8.1.1Si微电路
8.1.2GaAs微电路
8.1.3SiGe微电路
8.2失效模式和失效机理
8.2.1概述
8.2.2封装失效机理
8.2.3机械失效机理
8.2.4失效模式
8.3可靠应用分析
8.4应用信息
8.5可靠应用操作
8.6可靠应用案例
9光电子器件
9.1技术
9.2失效模式和失效机理
9.2.1光源
9.2.2发光二极管
9.2.3激光器二极管
9.2.4光纤和光缆
9.2.5探测器
9.3可靠应用分析
9.4应用信息
9.5可靠应用案例
10保险管
10.1技术
10.2失效模式和失效机理
10.3可靠应用分析
10.4应用信息
10.5可靠应用操作
10.6可靠应用案例
11继电器
11.1技术
11.2失效模式和失效机理
11.2.1失效模式分布
11.2.2失效机理
11.3可靠应用要求
11.4应用信息
11.5可靠应用操作
11.6可靠应用案例
12连接器
12.1连接器技术
12.2失效模式和失效机理
12.3可靠应用分析
12.4应用信息
12.5可靠应用操作
12.6可靠应用案例
13开关
13.1开关技术
13.2失效模式和失效机理
13.3可靠应用分析
13.4应用信息
13.5可靠应用操作
13.6可靠应用案例
14电源
14.1电源技术
14.2失效模式和失效机理
14.3可靠应用分析
14.4应用信息
14.4.1电源模块应用
14.4.2线性电压调整器应用
14.4.3开关电源芯片设计
14.5可靠应用操作
14.6可靠应用案例
