产品故障管理与可测性设计

研发总监、研发部经理、测试部经理、制造技术部经理、新产品导入(NPI)经理；

总工程师、资深硬件工程师、资深软件工程师、资深其它研发工程师；

1、产品故障管理设计

硬件层故障管理支持、单板级故障管理、设备级故障管理及网管级故障管理

故障管理设计

2、可测性概念

什么是可测性、可测性的能控性和能观性、可测性设计

当前测试面临的困难、测试方法发展趋势

电子系统功能不正确的原因、缺陷种类、PCB典型故障

理想的测试、真实的测试、生产测试、多种测试手段结合、减少测试费用的方法

用户的可测性需求、内部的可测性需求、直通率与可测性

故障的影响、可测性的效益

3、可测性设计过程

过程概述、DFT规格需求、建立可测性基线

方案设计、可测性实现、可测性验证、可测性评估

可测性设计体系、可测性设计组织保证

4、可测性设计的方法和技术

可测性设计指标定义、可测性的方法和技术—端到端、可测性设计需求分析方法

可测性的分析方法、经验分析法、D矩阵分析法、器件失效模式库建库规则

故障检测常用技术、取值范围检测法、比较法、数据一致性检测、时基检测法、BIST

复杂单板举例、JTAG技术、JTAG原理、JTAG应用、单板JTAG的一条链设计、系统JTAG

专项可测性技术：上电自检技术、电子标签、存储器测试、老化中测试、时钟测试技术

案例分析：E公司的DFT架构、C公司DFT、A公司、故障预警

5、总结及问题讨论

李老师　慧海明科技　产品开发工程（PDE）及可测试性首席专家

从业经验：

有11年大型公司的研发管理和实践经验，曾就职于华为（9年）和Lockheed Martin等。

是华为2002年首批150位主任工程师之一，并从2003年起为华为产品工程部北研分部负责人，全权负责华为北研分部的产品工程设计（工艺、器件、DFx和生产测试等）；个人累计申请专利约15项；

曾主持制定华为多部产品工程、生产测试和可测性设计的规范、指导书；

曾多次获得华为公司荣誉奖和优秀教师称号；负责产品工程业务培训组织和实施，并制定公司级生产测试和可测性设计教材。

在华为，曾主持开发多型号产品，具有丰富的按IPD流程开展的产品开发实践经验。

专长：

产品开发工程、研发流程、DFx、生产测试、硬件技术等。